Testfassungen

Testfassung für BGA/CSP/QFN/LGA/QFP/SO

Serie: YED274
  • Kundenspezifische Testfassung | Pitchgrößen ≥ 0,30mm
  • Hervorragende elektrische Eigenschaften
  • Für Hochtemperaturbereiche verfügbar

Kelvin-Testfassung für QFN/SOP/QFP

Serie: YED274
  • Kelvin-Federkontaktstifte
  • Feinrastermaße realisierbar | Rastermaße bis ≥ 0,3mm
  • Für den Einsatz im Labor und Testfloor

Testfassung für BGA/CSP/QFN/LGA/QFP

Serie: YED254
  • Kundenspezifische Testfassung | Pitchgrößen ≥ 0,30mm
  • Einfach zu schließender Deckel
  • Für Hochtemperaturbereiche verfügbar

HF Sockel Y-förmiger CMT-Kontakt

Serie: IC299
  • Die Testfassungen der Serie IC299 sind ideal für automatisiertes und manuelles Testen von SOP, SSOP, TSOP und QFP Bausteinen in jeder erdenklichen Pitchgröße.  
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Bahnhofstraße 20
85609 Aschheim-Dornach

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Fax +49 89 45109-110> E-mail> Kontaktformular


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