YED900 - Com Express Test Adapter



    • Direkte Anbindung an bestehende Testsysteme
    • Ausfallsichere Probe Pin Technologie
    • Kompatibel mit ComExpress Standards
    • Flexible Modulgrößen
    • Automatisierter In-line Test
    • Andere Computer-on-Module Test-Systeme auf Nachfrage

      Pin Anzahl:

      220 /440 Pins

      Widerstand:

      Bis zu 1 Amp/Pin bei Raumtemperatur

      Betriebstemeratur:

      -30°C bis +85°C

      Pitch:

      0,5mm

      Kontaktzyklen:

      50.000 (erwartet)

      Gehäuse:

      PEEK / eloxiertes Aluminium

      Kontakte:

      Beryllium Kupfer / Gold über Nickel Beschichtung

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      Kontakt

       


      Kontakt:
      Bernhard Stolz
      Product Manager

      Tel +49 89 45109-304 bernhard.stolz@yamaichi.de


       

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