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Y-ETI Test Application Board (TAB)

Features

  • Prüfung mit hoher Geschwindigkeit
  • Kontaktierung von Fine-Pitch-Testpunkten
  • Impedanz- und/oder Laufzeittests möglich

Vorteile

  • Ideal für Hochleistungstests
  • Kein Kabelverzug
  • Impedanz- und/oder laufzeitgesteuerter Aufbau möglich
  • Hochgeschwindigkeits-Interface-Steckverbinder