Testfassung für BGA/CSP/QFN/LGA/QFP



  • Kundenspezifische Testfassung | Pitchgrößen ≥ 0,30mm
  • Einfach zu schließender Deckel
  • Für Hochtemperaturbereiche verfügbar

Kontaktwiderstand:

<75mΩ

Kontaktkraft

15 bis 25g

Betriebstemperatur:

-40°C bis 125°C

Hochtemperaturbereich:

-55°C bis 150°C

Betriebstemperaturbereich:

–40°C bis +170°C

Kontaktzyklen:

50.000 Kontaktierungen min.

Gehäuse

PEEK und eloxiertes Alumimium

Kontakt:

Beryllium Kupfer (BeCu)

Kontaktoberfläche:

Gold über Nickel

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Kontakt

YAMAICHI ELECTRONICS
Deutschland GmbH

Concor Park
Bahnhofstraße 20
85609 Aschheim-Dornach

Tel  +49 89 45109-0
Fax +49 89 45109-110> E-mail> Kontaktformular


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